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InFO與Fan-out封裝

更新 2026-05-28

定義

Fan-out wafer-level packaging(FO-WLP,扇出型晶圓級封裝)是在晶片周圍用 molding compound 重組出更大的封裝面積,再用 RDL 把原本集中在晶片上的 I/O pad 扇出到更大的 bump / solder ball 陣列。它的核心價值是不用完整矽中介層,就能提高 I/O 密度、降低封裝厚度,並把多顆 die 或 PoP 結構整合進較薄的封裝。

InFO(Integrated Fan-Out)是 2330_台積電(市) 的 fan-out 平台。台積電公開資料指出 InFO 自 2016 年進入高量產;InFO_oS(InFO on Substrate)則把 fan-out RDL 與基板結合,2017Q4 開始量產爬坡,用於網通 / HPC 多晶片封裝。

圖解

flowchart TD
    A[Known-good die] --> B[Die placement on carrier]
    B --> C[Molding / reconstituted wafer]
    C --> D[RDL build-up<br/>PSPI/PBO + Cu redistribution]
    D --> E[UBM / bump / solder ball]
    E --> F[Fan-out package]
    F --> G[Mobile AP / RF / networking / multi-die module]

    D -. 放大到 panel .-> H[[技術_FOPLP]]
    F -. 多 die 行動平台 .-> I[[技術_WMCM]]
    F -. 高功耗 HBM 系統分流 .-> J[[技術_CoWoS]]

圖說:Fan-out 的本質是「重組晶圓 + RDL 扇出」。若載體從圓晶圓放大到方形面板,會進一步走向 技術_FOPLP;若整合多顆行動/消費 die,會走向 技術_WMCM

技術原理 / 流程

  1. KGD 篩選:先挑出 known-good die,避免重組後報廢整顆封裝。
  2. Die placement:把 die 放在暫時載體上;placement accuracy 會決定 RDL 對位窗口。
  3. Molding / reconstitution:用 molding compound 固定 die,形成重組晶圓。
  4. RDL build-up:塗佈 PSPI/PBO 介電層、曝光顯影、PVD 種子層、電鍍銅、蝕刻與清洗,重複形成多層 RDL。
  5. Bump / ball attach:形成外部 I/O。
  6. 測試 / 切割 / 出貨:依應用做 CP、final test 或 system-level test。

主要型態

型態 說明 主要應用
InFO_PoP 將 application processor 與記憶體 PoP 整合,追求薄型與訊號路徑縮短 智慧型手機 AP
InFO_oS Fan-out RDL 接到 substrate,支援較大封裝與多 die 網通、HPC、ASIC
Amkor SWIFT / SLIM OSAT fan-out 平台,強調高密度 RDL、薄型與多 die 整合 mobile、networking、SiP
JCET XDFOI 長電科技 fan-out 平台,覆蓋 2D/2.5D fan-out 與 heterogeneous integration 消費、網通、HPC
WMCM 台積電晶圓級多晶片模組,可視為 InFO / fan-out 的多 die 延伸 Apple / 行動與消費電子

優點

  • 薄型化:少了傳統 substrate 或中介層厚度,適合手機與可攜式裝置。
  • 成本低於完整矽中介層:RDL 承擔 I/O redistribution,不需要大面積 silicon interposer。
  • I/O 扇出彈性:可把細 pitch pad 轉成較大 pitch 外部連接。
  • 多 die 整合潛力:可把 AP、RF、PMIC、I/O 或小型 chiplet 整合在同一封裝。

缺點 / 困難點

困難 說明
Die shift molding 後 die 位置偏移,會壓縮 RDL 對位窗口
Warpage molding compound、銅 RDL、矽 die 的 CTE 不同,封裝越大越容易翹曲
RDL 良率 多層 RDL 線寬 / 線距縮小後,微影、電鍍與缺陷檢測難度上升
散熱 相對 CoWoS / 大型 substrate 封裝,fan-out 在高功耗 AI GPU 上熱路徑較吃力
測試與重工 多 die 整合後,單一 die 或 RDL 缺陷可能報廢整顆封裝

與其他先進封裝的差異

技術 互連核心 相對 fan-out 的定位
技術_CoWoS silicon / RDL interposer + substrate 更高功耗、更大封裝、HBM 整合能力強
技術_SoIC hybrid bonding / Cu-Cu bonding 垂直堆疊,互連密度更高,但製程與測試更難
技術_FOPLP panel-level RDL first / chip-last 把 fan-out 放大到方形面板,追求面積經濟
技術_WMCM wafer-level multi-chip + RDL InFO / fan-out 在多 die 行動平台的延伸

關鍵廠商

廠商 角色
2330_台積電(市) InFO / InFO_oS / WMCM 平台主導
3711_日月光投控(市) OSAT fan-out / VIPack / FOCoS 生態,見 技術_FOCoS與VIPack
Amkor SWIFT / SLIM fan-out 平台
JCET XDFOI fan-out 平台
6239_力成(市) 台灣封測廠,具晶圓級封裝與 panel-level 觀察價值

技術演進時程

時間 事件
2016 台積電 InFO 進入高量產,成為 fan-out 商業化代表
2017Q4 台積電 InFO_oS 量產爬坡,把 fan-out 與 substrate 結合
2024-2026 AI / HPC 封裝需求放大,fan-out 與 RDL 成為 CoWoS-R、FOCoS、WMCM、FOPLP 的共同底層能力
2026-2028 WMCM、FOPLP / CoPoS 推動 fan-out 從晶圓級走向多 die 與面板級

投資觀察

  • Fan-out 的投資重點不只在封裝廠,也在 RDL 材料與設備:技術_PSPI、PVD、電鍍、濕製程、AOI / metrology。
  • 當 AI/HPC 從完整矽中介層走向 CoWoS-R/L、FOCoS-Bridge、FOPLP 時,RDL 製程能力會變成封裝廠與設備商的共同瓶頸。
  • InFO / WMCM 主要看 Apple 與行動消費電子節奏;FOPLP / CoPoS 則看 AI 大封裝成本與產能壓力。

來源

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