定義
Fan-out wafer-level packaging(FO-WLP,扇出型晶圓級封裝)是在晶片周圍用 molding compound 重組出更大的封裝面積,再用 RDL 把原本集中在晶片上的 I/O pad 扇出到更大的 bump / solder ball 陣列。它的核心價值是不用完整矽中介層,就能提高 I/O 密度、降低封裝厚度,並把多顆 die 或 PoP 結構整合進較薄的封裝。
InFO(Integrated Fan-Out)是 2330_台積電(市) 的 fan-out 平台。台積電公開資料指出 InFO 自 2016 年進入高量產;InFO_oS(InFO on Substrate)則把 fan-out RDL 與基板結合,2017Q4 開始量產爬坡,用於網通 / HPC 多晶片封裝。
圖解
flowchart TD
A[Known-good die] --> B[Die placement on carrier]
B --> C[Molding / reconstituted wafer]
C --> D[RDL build-up<br/>PSPI/PBO + Cu redistribution]
D --> E[UBM / bump / solder ball]
E --> F[Fan-out package]
F --> G[Mobile AP / RF / networking / multi-die module]
D -. 放大到 panel .-> H[[技術_FOPLP]]
F -. 多 die 行動平台 .-> I[[技術_WMCM]]
F -. 高功耗 HBM 系統分流 .-> J[[技術_CoWoS]]
圖說:Fan-out 的本質是「重組晶圓 + RDL 扇出」。若載體從圓晶圓放大到方形面板,會進一步走向 技術_FOPLP;若整合多顆行動/消費 die,會走向 技術_WMCM。
技術原理 / 流程
- KGD 篩選:先挑出 known-good die,避免重組後報廢整顆封裝。
- Die placement:把 die 放在暫時載體上;placement accuracy 會決定 RDL 對位窗口。
- Molding / reconstitution:用 molding compound 固定 die,形成重組晶圓。
- RDL build-up:塗佈 PSPI/PBO 介電層、曝光顯影、PVD 種子層、電鍍銅、蝕刻與清洗,重複形成多層 RDL。
- Bump / ball attach:形成外部 I/O。
- 測試 / 切割 / 出貨:依應用做 CP、final test 或 system-level test。
主要型態
| 型態 |
說明 |
主要應用 |
| InFO_PoP |
將 application processor 與記憶體 PoP 整合,追求薄型與訊號路徑縮短 |
智慧型手機 AP |
| InFO_oS |
Fan-out RDL 接到 substrate,支援較大封裝與多 die |
網通、HPC、ASIC |
| Amkor SWIFT / SLIM |
OSAT fan-out 平台,強調高密度 RDL、薄型與多 die 整合 |
mobile、networking、SiP |
| JCET XDFOI |
長電科技 fan-out 平台,覆蓋 2D/2.5D fan-out 與 heterogeneous integration |
消費、網通、HPC |
| WMCM |
台積電晶圓級多晶片模組,可視為 InFO / fan-out 的多 die 延伸 |
Apple / 行動與消費電子 |
優點
- 薄型化:少了傳統 substrate 或中介層厚度,適合手機與可攜式裝置。
- 成本低於完整矽中介層:RDL 承擔 I/O redistribution,不需要大面積 silicon interposer。
- I/O 扇出彈性:可把細 pitch pad 轉成較大 pitch 外部連接。
- 多 die 整合潛力:可把 AP、RF、PMIC、I/O 或小型 chiplet 整合在同一封裝。
缺點 / 困難點
| 困難 |
說明 |
| Die shift |
molding 後 die 位置偏移,會壓縮 RDL 對位窗口 |
| Warpage |
molding compound、銅 RDL、矽 die 的 CTE 不同,封裝越大越容易翹曲 |
| RDL 良率 |
多層 RDL 線寬 / 線距縮小後,微影、電鍍與缺陷檢測難度上升 |
| 散熱 |
相對 CoWoS / 大型 substrate 封裝,fan-out 在高功耗 AI GPU 上熱路徑較吃力 |
| 測試與重工 |
多 die 整合後,單一 die 或 RDL 缺陷可能報廢整顆封裝 |
與其他先進封裝的差異
| 技術 |
互連核心 |
相對 fan-out 的定位 |
| 技術_CoWoS |
silicon / RDL interposer + substrate |
更高功耗、更大封裝、HBM 整合能力強 |
| 技術_SoIC |
hybrid bonding / Cu-Cu bonding |
垂直堆疊,互連密度更高,但製程與測試更難 |
| 技術_FOPLP |
panel-level RDL first / chip-last |
把 fan-out 放大到方形面板,追求面積經濟 |
| 技術_WMCM |
wafer-level multi-chip + RDL |
InFO / fan-out 在多 die 行動平台的延伸 |
關鍵廠商
技術演進時程
| 時間 |
事件 |
| 2016 |
台積電 InFO 進入高量產,成為 fan-out 商業化代表 |
| 2017Q4 |
台積電 InFO_oS 量產爬坡,把 fan-out 與 substrate 結合 |
| 2024-2026 |
AI / HPC 封裝需求放大,fan-out 與 RDL 成為 CoWoS-R、FOCoS、WMCM、FOPLP 的共同底層能力 |
| 2026-2028 |
WMCM、FOPLP / CoPoS 推動 fan-out 從晶圓級走向多 die 與面板級 |
投資觀察
- Fan-out 的投資重點不只在封裝廠,也在 RDL 材料與設備:技術_PSPI、PVD、電鍍、濕製程、AOI / metrology。
- 當 AI/HPC 從完整矽中介層走向 CoWoS-R/L、FOCoS-Bridge、FOPLP 時,RDL 製程能力會變成封裝廠與設備商的共同瓶頸。
- InFO / WMCM 主要看 Apple 與行動消費電子節奏;FOPLP / CoPoS 則看 AI 大封裝成本與產能壓力。
來源
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