技術_CPO

與相關技術的關係

CPO 是 技術_SiPh(矽光子)於系統封裝的整合應用形式;其平台層由 技術_COUPE / 技術_COUPE2.0 / iOIS / 3D EIC-PIC 提供;封裝載體與 技術_CoWoS / Glass Substrate 緊密相關;封裝後測試交給 技術_HyperSocket 與 CPO Insertion 設備等。本頁聚焦 CPO 作為「系統級光電整合方案」的演進路線、瓶頸、測試方法論、商業化時程與台廠定位。

定義

CPO(Co-Packaged Optics,共封裝光學)是把光學引擎(Optical Engine)與運算 / 交換 ASIC(GPU / TPU / Switch)整合在同一封裝內的下世代互連架構。相較於可插拔光模組(Pluggable Optics),CPO 把光電轉換點推近 ASIC,消除 SerDes 的長距銅線 channel loss,大幅降低互連功耗、延遲與訊號完整性問題;其目標是支撐 AI 資料中心從目前的 800G / 1.6T 升級到 12.8T+ 頻寬等級。

光通訊的終極演進方向:「增加電平(PAM4 → PAM6 / PAM8)」→「利用相位(Coherent)」→「重構架構(CPO)」,本質是以三種不同方式突破頻譜效率的物理極限。CPO 屬於最後階段——當 224G PAM4 撞牆、448G 在銅線上不可行(Copper Channel Loss、Skin Effect Limit、DSP Power Explosion)時,把訊號從電轉光、且在封裝內完成,是必走之路。

「光」與「電」並非競爭技術,而是同一電磁場的兩個象限;CPO 的核心是讓 ASIC 同時擁有兩者的優勢:

維度電氣(Electrical)光學(Optical)
載體電子(電導體 + 回路 + 銅 + 介電質)光子(波導內全反射、Si + SiO₂)
損耗~1 dB/cm @ 53 GHz(皮膚效應)< 0.2 dB/km @ 1550nm(Rayleigh 散射)
頻率DC ~ 100 GHz~ 193 THz
距離mm ~ cm(封裝內 SR)cm ~ km(跨資料中心 LR)
EMI敏感免疫

CPO 演進路線(穎崴 2026/05/14 引用 Counterpoint Research)

圖說:CPO 演進五階段。從 Pluggable Optics(~2016,100% Cu 銅互連、~800G、1x 功耗)→ OBO On-Board Optics(2023,80% Cu + 20% Optics、< 1.6T、~0.8x 功耗)→ NPO Near-Packaged Optics(2025,50% Cu + 50% Optics、< 3.2T、0.6x 功耗)→ 2.5D CPO(COUPE Switch)(2027,20% Cu + 80% Optics、< 6.4T、< 0.5x 功耗)→ 3D CPO(COUPE XPU)(2030,100% Optics、12.8T+、< 0.1x 功耗、< 0.05x latency)。穎崴 技術_HyperSocket 系列、旺矽 CPO Insertion 2/3 設備皆對應 2.5D / 3D 階段瓶頸。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

2026-2028:ASIC 平台 golden window

同一 ASIC 同時支援 CPO(scale-up,主戰場 / 高效能)與 CPC Co-Packaged Copper(scale-out / 部署彈性 / 維護便利),是 hyperscaler 在 CPO 規格與標準未定前的最大彈性。NVIDIA 已釋出訊號:1.6T CPO 在 million-GPU 規模可省 180MW,Spectrum-X 達 5× 效率、2 Tb/s、10× 可靠度,CPO 與銅線將分層共存。

CPO 系統架構(PIC Blueprint 五步驟)

矽光子 PIC(Photonic Integrated Circuit)藍圖由五個元件層級組成,每一層都是 CPO 量產的關鍵良率瓶頸:

Step 1:光源矩陣(Light Source Matrix)

光源特性適用場景主要供應商
DFB Laser(分布反饋)高度穩定波長、窄線寬標準 1310nm / 1550nm 電信3081_聯亞(櫃)
VCSEL(垂直腔面射型)低成本、易陣列、適短距DC 短距資料中心各家磊晶廠
Comb Laser(梳狀雷射)從單一裝置產生多個精確波長102.4T CPO(大規模 WDM 密度)少數國際廠

Step 2:調變器(Modulator)— 三方對決

調變器體積頻寬熱穩定PAM4 線性良率 / 成熟度主要客戶
MZM(Mach-Zehnder)大(1-3 mm)優異最高(10+ 年)Broadcom / Intel / Marvell / Lightmatter / Cisco
EAM(Electro-Absorption)中(50-100 μm)臨界(需 TEC)nVIDIA / AyarLabs
MRM(Micro-Ring)微(10-20 μm)Coherent / Lumentum / Intel

NVIDIA Spectrum-X CPU Switch 採 MRM 微環,是 CPO 路線的重要規格里程碑。

Step 3:光路由(Routing The Light)

PIC 內部光波導與多波長路由設計(MUX / DEMUX)。

Step 4:波長分波多工(WDM)

關鍵 KPI:Crosstalk 必須維持在 −20 dB 以下,以避免相鄰波長互相干擾。

Step 5:I/O 耦合(Coupling Strategy)

耦合方式特性優勢挑戰
Grating Coupler(光柵)光垂直進出可在 dicing 前由晶圓上方做 Wafer-Level Test插損較高、波長敏感
Edge Coupler(邊緣)光水平進出高頻寬、超低插損(< 1.0 dB)、偏振不敏感、適 128-core FAU要求次微米對位精度

TSMC COUPE 在 GC 與 EC 兩種耦合方式都能提供業界更低插入損耗,是其平台優勢。詳見 技術_COUPE

CPO Test Flow 與四大製造瓶頸

圖說:CPO Test Flow 五階段:Substrate / PIC / FAU 製造 → Passive Cable Attachment → Electro-Optical Testing of Engines → Package Assembly → Module Assembly。每一階段對量測精度與設備能力都有獨立要求。來源:Teradyne,引用自 活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

圖說:CPO 引擎的電光測試(Electro-Optical Testing of Engines)流程示意;要求同時量測高速電訊號(224G PAM4)與光學功率 / 波長 / 偏振等多物理量。來源:Teradyne,引用自 活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

四大瓶頸(穎崴 2026/05/14 整理)

  1. 機械極端(Mechanical Extremes)
    • Package Size > 100mm × 100mm,up to 200mm
    • Pin Count > 10,000,up to 50,000 pins
    • Key Challenge:Warpage 高達 0.6mm
  2. 電氣性能極限(Electrical Performance Barriers)
    • Signal Speed 224 Gbps PAM4 → 448 Gbps
    • Key Challenge:Signal Integrity、Crosstalk、448G Electrical Wall(銅介質 ~ −10 dB Insertion Loss / 1 inch @ 112 GHz)
  3. 熱密度危機(Thermal Density Crisis)
    • Power Consumption > 4,000W per device
    • Key Challenge:Thermal Runaway / Solder Melt
    • Socket Power Loss > 500W
  4. 異質整合(Heterogeneous Integration)

圖說:CPO Production Assessment。穎崴整理 CPO 生產四階段中各環節的良率挑戰、設備需求與良率瓶頸對應。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

FAU Active Alignment(D-FAU / iFAU 共同瓶頸)

圖說:FAU(Fiber Array Unit)Active Alignment 的容差堆疊(Tolerance Stack-up)約 3.8 μm,相當於 SMF 光纖核心直徑的 42%。這也是 6223_旺矽(櫃) CPO Insertion 2 / Insertion 3 設備與穎崴 Active Alignment 量產夾治具的共同訓練場。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

為何 CPO 必須用 SMF(Single Mode Fiber):矽光子波導本身就是單模,光自 ASIC 出來時即為基模狀態;用 SMF 不是設計選擇而是由晶圓級的矽光子平台所決定。MMF 在 > 100m 或 > 100 Gbps 時即崩潰;SMF 可支援 200 Gbps+ 跨 2 km+,是 CPO 部署的物理必然。

為何銅 + DSP 路線在 448G 撞牆

  • 銅 channel loss:1 inch 高階介電質 @ 112 GHz Nyquist,插損已接近 −10 dB
  • Skin Effect Limit:> 100 GHz 時 skin depth 跌破 0.2 μm
  • DSP Power Explosion:要靠 DSP 補償物理 loss,ADC 取樣需 > 224 GS/s
  • 介電損耗倍數:損耗隨頻率線性放大

448G 規格比較:

規格224G (PAM4)448G (PAM4)448G (PAM6)448G (PAM8)
Bits / Symbol22~2.583
Baud Rate112 GBaud224 GBaud~173.6 GBaud~150 GBaud
Nyquist Freq.56 GHz112 GHz86.8 GHz74.7 GHz
SNR Penalty0 dB (Ref)0 dB (Ref)−3.7 dB−6.2 dB
DSP 複雜度MediumHighHigherHighest
痛點銅可承載銅頻寬牆,不可行編碼複雜SNR 懸崖

CPO 四階段測試方法論

圖說:Wafer Level Test Methodology。Grating Coupler 之優勢即在此——光從晶圓上方垂直進出,可在切割(dicing)前完成 PIC 光學功能驗證。是 CPO 測試降低後段成本的關鍵。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

圖說:Die Level Test Methodology。PIC 切割後、進入 Package Assembly 前的單 die 測試;對應 6223_旺矽(櫃) CPO Insertion 3(Die Level)方案。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

圖說:Package Level Test Methodology。整合後封裝層測試需 active alignment / passive alignment / Direct with FAU 三種能力;電訊號路徑(Load Board → EIC)與光訊號路徑(EIC → PIC → Fiber)並行。對應 技術_HyperSocket socket 設計與旺矽 Insertion 2(FAU 階段)。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

圖說:Module Level Test Methodology。最終模組階段測試聚焦速度、對準與機構設計(pick & place / plug & play);穎崴於此階段以 HyperSocket-LF / Hyper-Liquid 對應極大封裝 + 極高功率測試需求。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

圖說:Module 階段 4 步組裝測試流程(穎崴 PDF P.57 Module Test Challenge):① Pick & Place — Handler 把 CPO IC 放入 socket;② Place FAUs — 逐根擺放個別光纖陣列;③ Plug All FAUs — 周邊 FAU 連接完成;④ Plug & Play — 完整接觸建立、測試序列開始。這四步直接定義 CPO 量產的吞吐瓶頸(active alignment + handler 速度 + FAU 良率),也是 技術_HyperSocket(步驟 ①、④ socket)與 6223_旺矽(櫃) CPO Insertion 2 / 3 設備(步驟 ②、③ FAU 對位與連接)共同的訓練場與商業切入點。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

CPO 在系統中的應用

圖說:CPO 與 CPC 在 AI 資料中心系統中的部署示意;scale-up 採 CPO(最高頻寬 / 最低功耗)、scale-out 採 CPC / pluggable(部署彈性 / 維護便利)。2026-2028 ASIC golden window 同時支援兩者。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

CPO 主要平台:TSMC iOIS / COUPE 2.0 / iFAU / D-FAU

詳細技術參見 技術_COUPE。本次群益 2026/05/14 簡報(產業_群益_CPO_D-FAU供應鏈_20260514)揭露重點:

  • COUPE 2.0 是台積電 iOIS(integrated Optical Interconnect System)的核心光引擎,與 CoWoS-S 整合 ASIC + HBM
  • 採用 3D 堆疊 EIC(7nm FinFET)/ PIC(65nm SOI SiPh),PIC 面向下(face-down)以 SoIC-X 混合鍵合接到 EIC
  • iFAU(integrated Fiber Array Unit) + D-FAU:將傳統 FAU 改為平面整合方案,搭配 Si microlens 與 Grating Coupler 表面耦合,提供 ±10 μm 對齊容差與 0.3 dB 耦合損耗
  • 垂直 BBC(Broadband Coupler):寬頻耦合器,三篇專利布局;可在廣泛波長上耦合光
  • 技術_Meta-lens(合聖 AuthenX):提供 ±18 μm 機械容差,是 CPO 商用化的關鍵元件之一;6789_采鈺(市) 與奇景光電以 WLO 12 吋半導體光學製程供應 COUPE 平台

市場趨勢與挑戰

圖說:CPO 市場趨勢與挑戰摘要。NVIDIA 訊號:1.6T CPO 在 million-GPU 規模省 180MW、Spectrum-X 5× 效率 / 2 Tb/s / 10× 可靠度、CPO + 銅線分層共存。未來趨勢:scale-up 為主戰場、共存 → 擴展 → 主流、ELS 架構 / DSP-free 設計。核心挑戰:熱與良率(一點 defect 毀整顆封裝)、可服務性(運維 SOP 重建)、標準與成本(生態尚不成熟)。來源:活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514

投資觀察與台廠供應鏈

環節台廠定位觀察重點
ASIC + 封裝平台2330_台積電(市)COUPE / COUPE 2.0 / iOIS / CoWoS-S 同步推進
上游雷射磊晶3081_聯亞(櫃)2455_全新(市)EML / CW Laser / Pump Laser / VCSEL
WLO 微透鏡(Si microlens / Meta-lens 主軸)6789_采鈺(市)12 吋半導體光學製程;COUPE 重要元件供應商
光纖陣列 / FAU / CPO 封裝3363_上詮(櫃)6442_光聖(市)FAU、ELS / SiPh 封裝
被動 / 濾光 / WDCM3163_波若威(櫃)WDCM、FBG 鎖波器
CPO 封裝後測試 socket6515_穎崴(市)技術_HyperSocket;對應 2.5D / 3D CPO 階段
CPO 設備(FAU / Die Level / Module Level)6223_旺矽(櫃)CPO Insertion 2(3Q26 驗證)/ Insertion 3(4Q26 小量、2027 量產)
玻璃中介層 / Glass Substrate參見 技術_CoWoS / 技術_玻璃芯基板解 organic 的 CTE mismatch / warpage
ASIC / 雷射客戶側NVIDIA、Broadcom、Marvell、AyarLabs、Intel、AMD、Coherent、Lumentum各家投資 / 入股 / 併購光通訊新創

2024-2026 全球光通訊 M&A 浪潮:Celestial AI / Rockley 收購(2024-11)、Nokia / Infinera(2025-02)、AMD / Enosemi 2.3B(2025-12)、Credo / DustPhotonics(2026-04)、Marvell / Polariton(2026-04)。Hyperscaler / IC Design 入股光通訊:Google Ventures → Lightmatter、Cisco / NVIDIA → Xscape、AMD / Intel / NVIDIA → AyarLabs、MediaTek → AyarLabs 2.0B、NVIDIA → Coherent $2.0B。CPO 已是國際 IDM / IC Design / Hyperscaler 的共同戰場。

觀察重點

  1. NVIDIA Quantum-X / Spectrum-X / Rubin Ultra 等 CPO 平台量產時程,是否如期落在 2027 後形成放量
  2. TSMC COUPE 2.0 良率與 iFAU / Meta-lens 等關鍵零組件供應鏈完備性
  3. 旺矽 CPO Insertion 2(3Q26)/ Insertion 3(4Q26)客戶驗證進度,及 2027 量產訂單能見度
  4. 穎崴 HyperSocket-LF / Hyper-Liquid 認證進度,對應大封裝 + > 4,000W 熱密度
  5. Glass Substrate 是否真在 2.5D / 3D CPO 階段取代 Organic 載體
  6. 448G 規格(PAM4 / PAM6 / PAM8)選擇是否由 IEEE / OIF 收斂;ELS 架構是否成主流
  7. 2026-2028 CPO + CPC 共存期內,hyperscaler 部署比例(CPO scale-up : CPC scale-out)

來源