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標籤: 環節/檢測
此標籤下有 18 條筆記。
2026年5月16日
6683_雍智（櫃）
公司/雍智
技術/探針卡
環節/檢測
環節/封測
產業/半導體
地區/台灣
2026年5月15日
活動_旺矽_富邦法說_20260515
來源/法說memo
公司/旺矽
技術/MEMS探針卡
技術/探針卡
技術/CPO
環節/檢測
產業/半導體
2026年5月15日
活動_穎崴_CPO論壇memo_20260514
來源/活動memo
公司/穎崴
技術/HyperSocket
技術/CPO
環節/檢測
環節/封測
產業/半導體
2026年5月15日
活動_穎崴_CPO論壇簡報_20260514
來源/論壇簡報
公司/穎崴
技術/CPO
技術/HyperSocket
技術/光通訊
環節/檢測
環節/封測
產業/半導體
產業/光通訊
2026年5月15日
6223_旺矽（櫃）
公司/旺矽
技術/MEMS探針卡
技術/探針卡
技術/CPO
環節/CPO測試
環節/檢測
產業/半導體
地區/台灣
2026年5月15日
6515_穎崴（市）
公司/穎崴
技術/HyperSocket
技術/CPO
技術/CPC
技術/探針卡
環節/CPO測試
環節/檢測
環節/封測
產業/半導體
地區/台灣
2026年5月15日
技術_CPO
技術/CPO
技術/SiPh
技術/光通訊
技術/D-FAU
技術/Meta-lens
技術/iOIS
環節/光學引擎
環節/CPO測試
環節/檢測
產業/半導體
產業/光通訊
2026年5月15日
技術_HyperSocket
技術/HyperSocket
技術/CPO
技術/socket
環節/CPO測試
環節/檢測
環節/封測
產業/半導體
2026年5月15日
時程_2026_半導體測試介面
時程/放量
環節/檢測
產業/半導體
2026年5月14日
FORM.US(formfactor)
公司/FormFactor
技術/MEMS探針卡
技術/探針卡
環節/檢測
產業/半導體
地區/美國
2026年5月14日
TPRO.MI(technoprobe)
公司/Technoprobe
技術/MEMS探針卡
技術/探針卡
環節/檢測
產業/半導體
地區/義大利
2026年5月14日
技術_MEMS探針卡
技術/MEMS探針卡
技術/探針卡
環節/檢測
產業/半導體
2026年5月12日
3030_德律（市）
公司/德律
產業/半導體設備
產業/半導體
環節/檢測
環節/設備
供應鏈/先進封裝
技術/CoWoS
地區/台灣
2026年5月11日
報告_MS_MPI6223_20260508
來源/券商報告
公司/旺矽
技術/探針卡
環節/檢測
2026年5月11日
6510_精測（櫃）
公司/精測
技術/探針卡
環節/檢測
產業/半導體
地區/台灣
2026年5月11日
技術_探針卡與測試介面
技術/探針卡
環節/檢測
產業/半導體
2026年5月10日
活動_創新服務_私訪_20260424
來源/參訪
公司/創新服務
技術/TGV
環節/設備
環節/檢測
產業/半導體設備
2026年5月10日
7828_創新服務（櫃）
公司/創新服務
技術/TGV
環節/設備
環節/檢測
產業/半導體設備
地區/台灣