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報告_華南_TPCA2026展場Memo_20261020

更新 2026-10-26

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原始內容

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20261020- TPCA Show 2026-摘要

No. 公司 說明 照片
1 (4526) 東台 東台 PCB 鑽孔機整合自動換刀、板材上 下料、刀具倉儲及物流調度,讓自主移 動機器人 手原本仰賴人工的搬運工 作。
2 (3167) 大量 大量 TM4 內層銅量測機是目前公司最高 階的量測設備,可針對每個孔量測內層 銅深度,並提供 z 軸深度補償確保被鑽位 置精準。
3 (2049) 上銀/ 大銀微系統 N2 奈米定位補償系統,遇到翹曲的晶圓 可自動補償解決檢測光源對焦問題,提 升 wafer 利用率。

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報告_華南_TPCA2026展場Memo_20261020_001

本項研究報告僅提供本公 會員參酌,且純粹屬於研究性質,並不保證報告內容的完整性與精確性,亦完全無意影響客戶買賣股票的任何投資決 定。報告中的各項意見與預測,是得自於本公 信任為可靠的來源,受到特定的判斷日期之時效性限制,若嗣後有任何變動,本公 不做預告, 也不會主動更新。投資人做任何決策時,必須自行謹慎評估相關風險,並就投資的結果自行負責。本研究報告的著作權為華南投顧所有,嚴禁抄 襲、引用、對外傳送或轉載。

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4 (2049) 上銀/ 大銀微系統 晶圓檢測載台利用底部中空設計,讓晶 圓得以兩面同時檢測,免除頂部檢測完 需翻面再檢的動作。
5 (2049) 上銀/ 大銀微系統 大銀微系統 LMSA-Z 線性馬達解決方 案,具備高動態響應與低安裝高度特 性,搭配高精度線性馬達平台,有效降 低高速加工誤差,提升微孔加工品質與 設備長期穩定性。
6 (1597) 直得 直得高精密定位線性馬達模組特色在於 中空旋轉軸整合真空管路,搭配零背隙 直驅技術,可應用於半導體檢測等精密 領域。

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本項研究報告僅提供本公 會員參酌,且純粹屬於研究性質,並不保證報告內容的完整性與精確性,亦完全無意影響客戶買賣股票的任何投資決 定。報告中的各項意見與預測,是得自於本公 信任為可靠的來源,受到特定的判斷日期之時效性限制,若嗣後有任何變動,本公 不做預告, 也不會主動更新。投資人做任何決策時,必須自行謹慎評估相關風險,並就投資的結果自行負責。本研究報告的著作權為華南投顧所有,嚴禁抄 襲、引用、對外傳送或轉載。

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7 (1597) 直得

直得UF Series線性馬達模組支援高密度 多頭並列配置,並整合力感測器,有效 提升半導體晶片取放密度。

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本項研究報告僅提供本公 會員參酌,且純粹屬於研究性質,並不保證報告內容的完整性與精確性,亦完全無意影響客戶買賣股票的任何投資決 定。報告中的各項意見與預測,是得自於本公 信任為可靠的來源,受到特定的判斷日期之時效性限制,若嗣後有任何變動,本公 不做預告, 也不會主動更新。投資人做任何決策時,必須自行謹慎評估相關風險,並就投資的結果自行負責。本研究報告的著作權為華南投顧所有,嚴禁抄 襲、引用、對外傳送或轉載。

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圖片清單(已驗證 2026-10-26)

四張均為展場實物低解析照片(約 80–140KB),歸類為真資料圖(產品實物);PDF 另有第 2、3 項(大量 TM4、上銀/大銀 N2 補償系統)等未附照片。

檔名 分類 親眼所見內容
報告_華南_TPCA2026展場Memo_20261020_001.png 真資料圖 白色外殼 PCB 鑽孔機,前方三組並列鑽軸/加工頭,背景為展場(對應摘要第 1 項東台)
報告_華南_TPCA2026展場Memo_20261020_002.png 真資料圖 HIWIN 標示的展示機台,透明罩內為橘黑色定位平台,銘牌列有定位精度等規格數值(文字過小無法逐項辨識)
報告_華南_TPCA2026展場Memo_20261020_003.png 真資料圖 HIWIN MIKROSYSTEM 標示的圓形載台(疑似晶圓檢測載台),旁有螢幕顯示產品介紹
報告_華南_TPCA2026展場Memo_20261020_004.png 真資料圖 透明罩內的小型線性馬達模組,下方銘牌標示系列名稱(影像辨識為 UF/LF Series,對應摘要第 7 項直得 UF Series);銘牌字小,系列名未能完全確認