🔴 光焱(7728) SEMICON 2026 帶展 Memo 中信投顧 20260902
- 主要產品：矽光子主要為發光元件、光波導、PD 探測器， 等三大元件，光焱可以生產後兩者元件，已生產多年經驗。
- 2024 年被稱為矽光子概念股，主要由客戶買 PD 探測器交貨給矽光子客戶。目前生產 IR 光損測試，既有廠商主要為雷射灌入後，找到漏光處標示 Bad Die，但無法看到洩漏量、洩漏處。
- 光焱 NightJar 機台：可以標示位置、漏光的功率/量、光波長多少（1310/1550 奈米波長缺陷、電路影響），主要關注光的定位、定量、定質，對應總量進出標示 Good/Bad Die。光焱找出 Good Die 減少 SoIC PIC Die 良率影響，於最早期找出是否過關、Die 風險，目前檢測廠商無法達到三大效果（定位、定質、定量)，及 PIC 光學指紋 DNA，對應 IC Design、光學廠、晶圓廠等客戶，提供參數給客戶進行智慧製造，比照電性測試廠商給予光晶片參數關聯性平台，可於 Insertion Loss Test 前測試 OWAT 缺陷檢測（晶圓廠 Insertion 0)、Insertion 1、Insertion 3。
- 光焱 FireFox 機台：200G 到 1.6T，對應不同光道有不同波長，客戶對模擬光源有 Burn-in 測試需求，OFC 2026 展出新機台，有不少客戶詢問，主要用於 Insertion 3 等 WDM、DWDM 24 小時模擬光源測試。
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檢測：光損分析、缺陷檢測，可對應 Insertion 1、Insertion 3、WAT (Insertion 0)，具備 Insertion 4 技術能力。
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設備驗證分為 POC、Qual、HVM 三大階段，目前 POC 通過，客戶預計將光焱機台放在工程驗證、量產生產線上，評估改善良率的效果，對應 IC Design、晶圓廠、光學廠、設備廠等 3-4 方降本增效，預計年底驗證結果公布之。
- 光探針台供應商：FORM
- 光測試機供應商：Advantest
- 一片 PIC 晶圓可以切割 670 個晶片，主要為 CP 測試，測試節點由晶圓廠決定。
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光焱負責標示出光損處。
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汎銓機台主要為 Insertion 1，關鍵差異在專利上，汎銓申請臺灣專利屬於金相顯微鏡、技術，光焱使用「高光譜成像」技術。
- 汎銓專利與光焱不同，對應零組件使用不同，僅為不同技術方法達到雷同效果，如：IRCCD 不可見光。
- 光焱諮詢專利事務所，皆表示無違反專利技術，不是採用金相顯微鏡、專利並非限定於 IRCCD。
- 光焱有非常多專利，佈局 7 國專利，約 10 幾項。若專利影響性愈小審核愈快。
- 汎銓夜行壁虎與光焱 NightJar 為完全競爭，目前沒有看到汎銓設備量產、出貨、客戶採用。
- 專利為浮動，若有訴訟、濫用，有機會被撤銷，目前有公司提出汎銓專利撤銷訴訟，且對外表示 1-2 年前有被閎康舉發專利無效訴訟，後續沒有公告。